Veröffentlicht 17. August 2026
| Version 1.0
Datensatz
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Manufacturing, Measurement, and Simulation Data of a GaN Buck Converter Conducted-EMI Sensitivity Analysis
Beschreibung
Repository accompanying the paper “Measured and Simulated Sensitivities of Conducted EMI in a GaN Buck Converter,” submitted to IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications on August 17, 2026.
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